采用复阻抗方法测量了晶粒、晶界电阻值,初步分析了施受主的缺陷补偿机制。
ac复阻抗方法已广泛地用于表征电子材料。
根据膜电容测量要求,找到刺激信号低频段复阻抗系统测量误差产生的原因,以及纠正的方法。
通过对所制材料复阻抗的测定,总结出与之相应的等效电路.
文章提出了一种利用机械阻抗求取机械系统传递函数的简便方法,它类似于电系统中的复阻抗方法。
采用复阻抗方法测量了晶粒、晶界电阻值,初步分析了施受主的缺陷补偿机制。
ac复阻抗方法已广泛地用于表征电子材料。
根据膜电容测量要求,找到刺激信号低频段复阻抗系统测量误差产生的原因,以及纠正的方法。
通过对所制材料复阻抗的测定,总结出与之相应的等效电路.
文章提出了一种利用机械阻抗求取机械系统传递函数的简便方法,它类似于电系统中的复阻抗方法。