二次離子質譜儀造句

利用雙晶X*線衍*技術測試了外延層，確定外延層的組分與晶體質量，並利用二次離子質譜儀進行了縱向組分分佈剖析，利用擴展電阻儀確定外延層的電學特*。

他的主要工具是一種叫做二次離子質譜儀的裝置。

使用時間飛行二次離子質譜儀(TOF-S IM S)、X*線光電子能譜儀(XPS)、原子力顯微鏡(AFM)和接觸角測量儀對FTE自組裝膜進行了表徵。